计算机应用

作者：陈田, 左永生, 安鑫, 任福继

单位：1. 合肥工业大学 计算机与信息学院, 合肥 230601;2. 情感计算与先进智能机器安徽省重点实验室(合肥工业大学), 合肥 230601;3. 德岛大学 工学部, 日本 德岛 770-8506

关键词：测试数据压缩,三态信号,相容压缩,扫描切片,自动测试设备

基金：国家自然科学基金资助项目（61474035，61204046，61502140，61432004）。

针对超大规模集成电路（VLSL）的发展过程中测试数据量增加的问题，提出了一种基于三态信号的测试数据压缩方法。首先，对测试集进行优化预处理操作，即对测试集进行部分输入精简和测试向量重排序操作，在提高测试集中无关位X的比例的同时，使各测试向量之间的相容性提高；随后，对预处理后的测试集进行三态信号编码压缩，即利用三态信号的特性将测试集划分为多个扫描切片，并对扫描切片进行相容编码压缩，考虑多种相容规则使得测试集的压缩率得到提高。实验结果表明，与同类压缩方法相比，所提的方法取得了较高的压缩率，平均测试压缩率达到76.17%，同时测试功耗和面积开销也没有明显增加。

来源：2019年第6期

《计算机应用》期刊编辑部

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